课程大纲:
SPC
1、统计技术概述
*什么是SPC
*统计学
*SPC的起源
*SPC的发展历程
*SPC的作用和特点
2、基本的统计概念
*基本术语
*正态分布
*主要统计参数
3、统计过程控制原理
*两种过程控制模型和控制策略
*具有反馈的过程控制模型
*两种模型的比较
*两种变差原因
*两种过程状态
*两种控制措施
*两种质量观
*四类过程及对策
*持续改进过程循环
*过程的持续改进
*计量型数据过程能力理解
*过程能力指数计算不合格品率
4、控制图
*控制图的概念
*控制图的作用
*控制图分类
*控制图的用途
*控制图的用途
*控制图应用的一般程序
*控制用控制图的日常管理
*控制用控制图判断准则
5、计量型数据控制图
*X - R
6、计数型数据控制图简介
*P图
7、案例练习
MSA
1、引言
*数据的用途
*数据的类型
*测量系统的统计特性
*什么是“好”的测量系统
*数据的质量
*检定或校准能不能代替测量系统分析
2、基本的统计概念
*测量
*量具
*分辨力(率)
*可视分辨率
*有效分辨率
*数据
*测量系统
*测量过程
*测量误差
*朔源性
*偏倚
*线性
*稳定性
*重复性
*再现性
*数据分级数
3、测量系统分析(MSA)基础
*ISO/TS16949与MSA
*进行测量系统分析时应具备的条件
*测量系统变差的类型
*测量系统的变差
*测量系统分析的时机
*测量系统分析的作用
*测量系统分析的准备*
*测量系统分析的接收准则
*测量系统分析执行注意点
*测量系统分析实施流程
4、测量系统的分析实施
* MSA方法的分类
*计量型测量系统分析
测量系统的偏倚
测量系统的线性分析
测量系统的稳定性
量具R&R 分析(均值-极差法)
*计数型测量系统分析
假设检验分析─交叉表方法
5、案例练习
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